In-line characterization techniques for performance and yield enhancement in microelectronic manufacturing - 1-2 October 1997, Austin, Texas
- Författare
- (Damon K. DeBusk, Sergio Ajuria, chairs/editors)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1997 | USA | 186 sidor. | 0-8194-2647-4 |